1. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
پدیدآورنده : \ Elie Maricau, Georges Gielen
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary,نیمه هادیهای اکسید فلزی مکمل,a04,a04,Linear integrated circuits -- Reliability.,مدارهای مجتمع خطی -- اطمینانپذیری
رده :
E-Book
,
2. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
3. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
4. Hf-based high-k dielectrics
پدیدآورنده : / Young-Hee Kim, Jack C. Lee
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Dielectrics,Hafnium oxide,Integrated circuits , Reliability,Semiconductors , Junctions,Breakdown (Electricity),Metal oxide semiconductor field-effect transistors
رده :
E-BOOK
5. High-Reliability products
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : Handbooks, manuals. etc. ، Integrated circuits-reliability,Handbooks, manuals, etc. ، Metal oxide semiconductors, complementary reliability
6. Hot Carrier design consideration for MoS devices and circuits
پدیدآورنده : edited by Cheng T. Wang
موضوع : Metal oxides semiconductors--Design and construction,Metal oxides semiconductors--Reliability
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
7. Latchup in CMOS technology : the problem and its cure
پدیدآورنده : Troutman, Ronald R.
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Reliability
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
8. Latchup in CMOS technology: the problem and its cure
پدیدآورنده : Troutman, Ronald R.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Defects ، Metal oxide semiconductors, Complimentary,Reliability ، Metal oxide semiconductors, Complimentary
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
T76
1986
9. Microelectronic reliability
پدیدآورنده :
موضوع : Semiconductors - Reliability
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
10. Physical limitations of semiconductor devices
پدیدآورنده : Vashchenko, Vladislav A.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Semiconductors,، Semiconductors -- Defects,، Semiconductors -- Reliability
رده :
TK
7871
.
85
.
P2
2008
11. Physical limitations of semiconductor devices
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Semiconductors. ; Semiconductors ; Defects. ; Semiconductors ; Reliability. ; Semiconductors. ; fast ; (OCoLC)fst01112198. ; Semiconductors ; Defects. ; fast ; (OCoLC)fst01112211. ; Semiconductors ; Reliability. ; fast ; (OCoLC)fst01112249. ; Halbleiterba
12. Reliability and degradation
پدیدآورنده : edited by M.J. Howes D.V. Morgan
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Semiconductors - Reliability
رده :
TK
7871
.
85
.
R44
1981
13. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده : Osamu Ueda
موضوع : Gallium aresnide semiconductors - Reliability,Semiconductors - Failures,Light emitting diodes - Reliability,Crystals - Defects
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
14. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده : Ueda, Osamu
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Gallium arsenide semiconductors - Reliability , Semiconductors - Failures , Light emitting diodes - Reliability , Crystals - Defects
رده :
TK
7871
.
85
.
U33
1996
15. Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
پدیدآورنده : Jacopo Franco • Ben Kaczer ,Guido Groeseneken
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Metal oxide semiconductor field-effect transistors > Reliability. Metal oxide semiconductors, Complementary > Reliability.
رده :
E-Book
,
16. Reliability of gallium arsenide MMICs
پدیدآورنده :
موضوع : ، Microwave integrated circuits-- Reliability,، Microwave integrated circuits-- Testing,، Gallium arsenide semiconductors-- Reliability,، Gallium arsenide semiconductors-- Testing
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
17. Reliability of gallium arsenide MMICs
پدیدآورنده : edited by Aris Christou
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Microwave integrated circuits - Reliability , Microwave integrated circuits - Testing , Gallium arsenide semiconductors - Reliability , Gallium arsenide semiconductors - Testing
رده :
TK
7876
.
R445
18. Reliability of gallium arsenide mmics
پدیدآورنده : edited by: Aris christou
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع : ، Microwave integrated circuits- Reliability,، Microwave integrated circuits- Testing,، Gallium aresenide semiconductors- Reliability
رده :
TK
7876
.
R4
19. Reliability of high mobility SiGe channel MOSFETs for future CMOS applications
پدیدآورنده : Franco, Jacopo,Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : Reliability ، Metal oxide semiconductor field-effect transistors,Reliability ، Metal oxide semiconductors, Complementary,، Physics,، Semiconductors,، Circuits and Systems,، Optical and Electronic Materials,، Electronic Circuits and Devices
رده :
TK7871
.
95
20. Reliability, yield, and stress burn-in: a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development
پدیدآورنده : Kuo, Way
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Design and construction-- Reliability,، Microelectronics-- Reliability,، Computer software-- Development-- Reliability,، Semiconductors-- Computer programs-- Reliability
رده :
TK
7874
.
K867
1998